Поиск
 
© 2008 ЗАО «Белый Tерем»
E-mail: info@belyterem.com
Дизайн и программирование:
Red Graphic
 
на главную страницукарта сайта обратная связь
Вакансии Контакт Прайс-лист О компании Статьи Новости
спектрофотометры
: Каталог : системы измерения цвета : спектрофотометры
  :  спектрофотометры
X-Rite Eye-One iSis (технология GretagMacbeth) Прайс-лист
Высокоскоростной автоматический спектрофотометр для измерения цветовых шкал - идеальный инструмент для использования в препрессе, высокоскоростной цифровой печати, высококачественной цветопробе, широкоформатной печати, печати упаковки, фотолабораториях, рекламных агенствах и студиях, изобразительной печати - там, где скорость и точность измерений критичны для решения ответственных задач.

iSis обладает следующими уникальными особенностями:
- получение данных с No-filter и UV-Cut-фильтром в одном цикле измерения
- встроенная видеосистема обеспечивает высокую точность позиционирования шкалы и автоматически корректирует ее положение
- считывание штрих-кода для идентификации шкалы
iSis использует ту же, отмеченную многочисленными наградами, технологию, что и спектрофотометр Eye-One Pro компании X-Rite. Он прост в использовании, здесь нет ни одной кнопки - просто загрузите шкалу и измеряйте.

iSis обладает компактной конструкцией и доступен в двух форматах: стандартном, который может считывать шкалы формата А4+ и, если вам необходим больший формат, то XL с форматом А3+. XL может считывать 2500 полей, напечатанных на одной странице формата А3, не тратя время на резку шкал и их измерение.

Если вы проводите много измерений, то iSis для вас. Он позволяет получить измерения 1500 полей за несколько минут, что в 3 раза быстрее, чем iCColor и в 6 раз быстрее DTP41.

iSis работает со всеми основными программами профилирования, такими как, ProfileMaker 5 и Monaco Profiler.

Комплект поставки Eye-One iSis:

  • Спектрофотометр Eye-One iSis
  • Блок питания
  • Кабель питания
  • USB кабель
  • Краткое руководство
  • Сертификат устройства
  • CD с приложениями
Параметр Значение
Спектральный анализ Голографическая дифракционная решетка с диодным массивом
Спектральный диапазон 380–730 нм
Шаг измерений 10 нм (внутреннее разрешение: 3,5 нм)
Режим измерений На отражение, сканирование полос
Разброс показаний приборов Среднее 0.4 DE*94 (девиация по стандарту X-Rite при температуре 23°C on 12 BCRA tiles (D50, 2°))
Повторяемость 0.1 DE*94 (D50, 2°), среднее значение из 10 измерений с интервалом в 3 сек на белом
Диапазон измерений 0.00D–2.5D; 0–160%R
Время измерения 1.4 секнды
Время разогрева  не требуется
Повторяемость ±0.005D для 0–2.0D, ±0.010D для 2.0–2.5D, Polarized Yellow ±0.010 для 0–1.8D, 0.10 dE Max
Интерфейс USB

вверх